Eliminierung von Glanzstellen, Fließlinen, inhomogenen Oberflächen oder unterschiedlichen Glanzgraden

Insbesondere Glanzstellen oder inhomogene Glanzgrade auf einem genarbten Spritzgussbauteil beeinträchtigen dessen Gesamtqualität stark, sind jedoch werkzeug- oder prozessbedingt nur schwer bis gar nicht abstellbar. Gerade im A-Sichtbereich sind solche... weiterlesen →

Kompakte und langlebige UV-C LEDs

LASER COMPONENTS präsentiert LG Innoteks neue, leistungsstarke 278 nm UV-C LEDs. Statt bislang 10 mW erreichen sie jetzt eine optische Ausgangsleistung von 30 mW aus einem Singlechip. Die kompakten und langlebigen LEDs im stabilen SMD-Gehäuse von 6 x... weiterlesen →

Der Aufsichtsrat der JENOPTIK AG hat in seiner heutigen Sitzung Dr. Stefan Traeger zum künftigen Vorstandsvorsitzenden der Gesellschaft ernannt und für drei Jahre bestellt. Dr. Stefan Traeger (49), derzeit Mitglied der Konzernleitung der Schweizer Tecan... weiterlesen →

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Neues Messmodul für Netzwerk-Plattform MTS-6000A

Mussten Sie schon einmal Lichtwellenleiter in U-Booten oder in der Luft- und Raumfahrt prüfen? Dann kennen Sie das Problem: Die LWL-Kabel sind schwer zugänglich, auf engstem Raum installiert und widrigen Umgebungsbedingungen ausgesetzt - dabei müssen... weiterlesen →

Vorsprung durch Sichtbarkeit!

Die 360 Grad Panoramafotografie nutzt eine der stärksten Entwicklung bei der Onlinesuche: die Entscheidung auf den ersten Blick, welche das Klickverhalten steuert. Denn das Netz bietet ein riesiges Angebot an Informationen, eine Flut an Wissen, Bildern... weiterlesen →

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Zoomobjektiv Fetura+ mit verbesserter Wiederholgenauigkeit

Qioptiq stellt mit dem Zoomobjektiv Fetura+ ein äußerst leistungsstarkes, langlebiges Produkt für Machine-Vision-Applikationen und Prüfaufgaben vor, das höchste optomechanische Präzision aufweist. Das schlittenbasierte Objektiv-System zeichnet sich durch... weiterlesen →

Die neue Tubusoptik mit einer Vergrößerung von 1.73x für das Mikroskop-System mag.x system 125 ist speziell für Sensoren mit dem Kleinbildformat entwickelt worden und ermöglicht industrielle Inspektionsprozesse mit Submikron-Genauigkeit auf einem besonders... weiterlesen →